IMLD-B型半導體式中空玻璃露點儀是根據(jù)標準GB/T 11944—2012規(guī)定的技術條件制造的一種儀器。用于檢測中空玻璃試樣內(nèi)表面在標準規(guī)定條件和方法情況下是否結露。適用于大專院校、科研單位、中空玻璃生產(chǎn)、使用單位以及相關檢測單位。

執(zhí)行標準：GB/T11944-2012《中空玻璃》關于露點測定部分

IMLD-B型半導體式中空玻璃露點儀儀器特點：

1. 采用半導體三級制冷的技術，制冷的溫度可以精確設定和控制，制冷速度快，操作十分方便，不僅可以在試驗室內(nèi)使用，而且可在現(xiàn)場進行檢測，不需要使用容易揮發(fā)的干冰，使用方便且使用成本低廉。
2. 探頭和制冷機組可實現(xiàn)*分離，方便實用且不受試件方向限制。
3. 集成了電源、冷卻、循環(huán)和控制系統(tǒng)，實現(xiàn)全過程自動控制，機箱和探頭由軟管連接，檢測時探頭的工作面與試件接觸，探頭的工作面可以為任意方向。
4. 采用pt100溫度探頭，測量精度高，數(shù)據(jù)準確。
5.溫度值控制采用微機溫控PID調(diào)節(jié)技術，控溫精度高，溫度穩(wěn)定性高。

IMLD-B型技術指標：

1. 測量探頭工作溫度：-60℃～-40℃
2. 測量探頭直徑：50mm
3. 數(shù)顯溫度計測量范圍：-65℃~ +50℃（注：測量范圍可調(diào)）
4. 溫度分辨率： 1℃
5. 試件尺寸：510mm×360mm
6. 控制箱尺寸：470mm×550mm×700mm
7. 試驗環(huán)境：溫度：23℃±2℃ 相對濕度：30%~75%RH
8. 試驗時間
原片玻璃厚度/毫米   接觸時間/分鐘
          ≦4             3
           5              4
           6              5
           8              7
          ≧10            10